產品中心您的位置：網站首頁 > 產品中心 > 放射性輻射檢測儀器 > α、β表面污染儀/表面玷污儀 > FJ-2603FJ-2603G型雙路α、β弱放射性測量裝置

FJ-2603G型雙路α、β弱放射性測量裝置

更新時間：2025-03-09

訪問量：2487

廠商性質：生產廠家

生產地址：上海

簡要描述：

FJ-2603G型雙路α、β弱放射性測量裝置用于低水平環境樣品的放射性活度測量，可用于環境保護、食品、生物制品、飲用水及其它微弱α、β弱放射性樣品的活度測量，也可用于河流水底泥、、建材、土壤中的α、β放射性水平的監測。可廣泛應用于環境保護、核電站、地質勘探、農業、輻射防護、醫藥衛生、考古等領域。該產品曾被評為部優產品。

在線詢價聯系我們

產品介紹：

執行質量標準	國標	產地	國產
加工定制	否

FJ-2603G型雙路α、β弱放射性測量裝置

產品用途

本儀器用于低水平環境樣品的放射性活度測量，可用于環境保護、食品、生物制品、飲用水及其它微弱α、β弱放射性樣品的活度測量，也可用于河流水底泥、、建材、土壤中的α、β放射性水平的監測。可廣泛應用于環境保護、核電站、地質勘探、農業、輻射防護、醫藥衛生、考古等領域。該產品曾被評為部優產品。

儀器特點：

FJ-2603G型雙路α、β弱放射性測量裝置，是采用PIPS半導體探測器的測量儀器，該產品的研制*，雙路同時測量之間無影響。

執行標準： GB/T 11682-2008。

儀器規格：

FJ-2603G系列雙路α、β弱放射性測量裝置有主探測器PIPS雙路φ20（FJ-2603GXS），主探測器PIPS雙路φ30（FJ-2603GZS）。

主要技術指標：

儀器型號		FJ-2603GZS	FJ-2603GXS
主探測器規格		雙路φ30	雙路φ20
主探測器類型		PIPS離子注入半導體探測器	PIPS離子注入半導體探測器
本底 (計數·cm^-2min^-1）	α	≤0.005	≤0.0016
本底 (計數·cm^-2min^-1）	β	≤0.15	≤0.05
效率比	α	≥80%	≥90%
效率比	β	≥50%	≥60%
效率穩定性	α	≤5%	≤3%
效率穩定性	β	≤5%	≤5%
串道比	α進入β道	≤1%	≤1%
串道比	β進入α道	0	0